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數(shù)字設計類EDA
支持SoC芯片規(guī)劃與驗證、時序驗證和標準單元庫特征化與驗證，提前預測并預防設計問題，同時可協(xié)助客戶高效創(chuàng)建標準單元庫。
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測試系統(tǒng)
通過領先的半導體特性測試儀器產(chǎn)品與EDA產(chǎn)品形成軟硬件協(xié)同，提供差異化和更高價值的數(shù)據(jù)驅(qū)動的EDA全流程解決方案
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SPICE模型基帶建模
? BSIMProPlus
射頻建模
? MeQLab
自動化提取
? SDEP
驗證評估
? ME-Pro
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PDKPCell開發(fā)
? PCellLab
PDK驗證
? PQLab
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標準單元庫特征化
? NanoCell
驗證
? LibWiz
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制造光刻工藝建模仿真
? FabLitho
掩模版自動化設計
? FAR
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電路設計平臺原理圖設計
? NanoDesigner SE
版圖編輯
? NanoDesigner LS
交互式物理驗證
? NanoDesigner?iV
設計優(yōu)化
? NanoDesigner?Optimizer
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電路仿真SPICE仿真器
? NanoSpice ? NanoSpice X ? NanoSpice?Giga
FastSPICE仿真器
? NanoSpice?Pro ? NanoSpice Pro X
混合信號仿真
? NanoSpice?MS
波形查看分析
? NanoWave
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電路分析
動態(tài)和靜態(tài)電路檢查
? NanoSpice CCK
良率分析
? NanoYield
信號完整性分析
? NanoSpice?SI
路徑分析
? PathInspector
功率及電源芯片設計驗證
? PTM
電源網(wǎng)絡分布分析
? RNi
ESD驗證
? ESDi
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電路仿真數(shù)字仿真
? VeriSim
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標準單元庫
特征化
? NanoCell
驗證
? LibWiz
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SoC設計與驗證時序分析
? TRASTA
設計布局規(guī)劃
? NavisPro
信號完整性
? NanoSpice?SI
電源分析
? PTM
ESD驗證
? ESDi
芯片封裝連接驗證
? PadInspector
