高西格瑪良率分析解決方案
基于概倫獨(dú)特的統(tǒng)計(jì)模型技術(shù)和high-sigma統(tǒng)計(jì)分析算法而打造。
通過高效精準(zhǔn)的統(tǒng)計(jì)算法和并行加速技術(shù)對統(tǒng)計(jì)電路仿真的性能進(jìn)行無損精度的加速,對各種類型的電路包括存儲器/數(shù)字電路/模擬電路等進(jìn)行良率分析和設(shè)計(jì)優(yōu)化。
含有友好的電路設(shè)計(jì)分析環(huán)境,通過強(qiáng)大的圖形化界面幫助用戶在較短的時間內(nèi)評估良率并可根據(jù)設(shè)計(jì)目標(biāo)進(jìn)行電路優(yōu)化。
提高芯片設(shè)計(jì)的一次成功率,優(yōu)化芯片性能、提升良率從而提升產(chǎn)品競爭力。
內(nèi)置SPICE引擎和高效精準(zhǔn)的統(tǒng)計(jì)算法
支持快速 PVT/ 蒙特卡羅/ 高西格瑪分析功能
支持單機(jī)多核/服務(wù)器集群/公有云的并行加速
經(jīng)40/28/14/7/5nm工藝節(jié)點(diǎn)驗(yàn)證
并行仿真授權(quán)模式,經(jīng)濟(jì)高效
友好的圖形界面方便查看和處理良率分析結(jié)果
存儲器單元和陣列
良率預(yù)測和優(yōu)化
模擬/數(shù)字電路
良率預(yù)測和優(yōu)化
代工廠/IDM公司
SRAM良率提升
快速PVT應(yīng)用于
需大量工藝角仿真電路