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半導(dǎo)體低頻測試
全面覆蓋
通過領(lǐng)先的半導(dǎo)體特性測試儀器產(chǎn)品與EDA產(chǎn)品形成軟硬件協(xié)同，提供差異化和更高價值的數(shù)據(jù)驅(qū)動的EDA全流程解決方案
參數(shù)化測試
半導(dǎo)體參數(shù)化測試（Parametric Test）系統(tǒng)主要用于半導(dǎo)體器件的參數(shù)測量和監(jiān)測，是協(xié)助芯片制造和設(shè)計優(yōu)化的重要工具。芯片制造廠通過參數(shù)化測試評估和優(yōu)化制造工藝，提高半導(dǎo)體器件性能，確保產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。對于芯片設(shè)計來說，參數(shù)化測試可以協(xié)助設(shè)計師了解和驗證半導(dǎo)體器件的參數(shù)范圍和特性，可以評估各種設(shè)計選擇的優(yōu)缺點，并優(yōu)化電路設(shè)計以達到最佳性能。
概倫半導(dǎo)體參數(shù)分析儀FS-Pro是一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析測試系統(tǒng)，能夠快速、準確地完成幾乎所有半導(dǎo)體器件的低頻特性表征，廣泛應(yīng)用于各種半導(dǎo)體器件、LED材料、二維材料器件、金屬材料、新型先進材料與器件測試、器件可靠性等研究領(lǐng)域，極大地加速了半導(dǎo)體器件與工藝的研發(fā)和評估進程。
概倫FS-MEMS是一款集成傳感器結(jié)構(gòu)參數(shù)測試功能的系統(tǒng)，通過一鍵操作即可完成動態(tài)和靜態(tài)參數(shù)測試。該系統(tǒng)全面覆蓋電流電壓（IV）、電容電壓（CV）、漏電、電阻、諧振頻率、Q 值、正交系數(shù)、-3dB 帶寬等關(guān)鍵電學(xué)參數(shù)，實現(xiàn)自動測試；同時支持多通道并行測試，可顯著提高測試效率，適用于角速度計（陀螺儀）、加速度計、壓力傳感器、光流量計、紅外傳感器等基于MEMS傳感器特性參數(shù)測試。
FS800 器件參數(shù)分析儀是概倫電子的新一代半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備，采用自主研發(fā)的模塊化架構(gòu)和數(shù)據(jù)總線，具有功能全面配置靈活等特點，在一臺設(shè)備中實現(xiàn)了電流電壓（IV）測試、電容電壓（CV）測試、快速波形發(fā)生與測試、低頻噪聲測試以及高速時域信號采集，儀器內(nèi)置的LabExpress 測試軟件配備豐富的內(nèi)置測試算法庫，支持擴展測試功能和定制測試流程，可廣泛應(yīng)用于新材料和新器件研究、電性參數(shù)測試、器件模型數(shù)據(jù)測試、可靠性測試等領(lǐng)域。
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半導(dǎo)體參數(shù)測試
FS-Pro
半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)
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半導(dǎo)體參數(shù)測試
FS-MEMS
傳感微結(jié)構(gòu)參數(shù)測試儀
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半導(dǎo)體參數(shù)測試
FS800
半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)
噪聲測試
低頻噪聲測試用于測量器件在低頻區(qū)域的1/f噪聲和RTN噪聲性能，是半導(dǎo)體器件制造和芯片設(shè)計中一種重要的分析手段，能夠幫助芯片制造和設(shè)計者提高產(chǎn)品質(zhì)量和市場競爭力。芯片制造廠可通過低頻噪聲測試監(jiān)測和優(yōu)化制造工藝，提高器件性能和穩(wěn)定性；芯片設(shè)計公司可通過評估和驗證器件的噪聲特性，優(yōu)化電路設(shè)計以提高電路性能和可靠性。
概倫981X系列低頻噪聲測試系統(tǒng)是低頻噪聲測試領(lǐng)域的黃金標準工具，適用于從成熟工藝到28/14/10/5/3nm等各工藝節(jié)點的先進工藝研發(fā)、IC設(shè)計和學(xué)術(shù)研究中。業(yè)界首款商用級交流噪聲測試系統(tǒng)9812AC為探索半導(dǎo)體研究新領(lǐng)域提供了更多的可能。
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低頻噪聲測試
9812E
緊湊型低頻噪聲測試系統(tǒng)
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低頻噪聲測試
9813DXC
先進低頻噪聲測試系統(tǒng)
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低頻噪聲測試
9812HF
先進寬帶噪聲分析儀
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動態(tài)交流噪聲測試
9812AC
動態(tài)交流噪聲測試系統(tǒng)
綜合量測
半導(dǎo)體自動量測系統(tǒng)是專門用于半導(dǎo)體器件性能評估和參數(shù)測量的系統(tǒng)，通常由參數(shù)分析儀、噪聲測試系統(tǒng)和探針臺等硬件設(shè)備、測量控制軟件以及矩陣開關(guān)等自動化機制組成。該系統(tǒng)能夠自動執(zhí)行多種電性測試，包括電流電壓（IV）特性、電容電壓（CV）特性、脈沖測試、噪聲測試以及可靠性測試等，能夠提高測試效率、準確性和可靠性，在半導(dǎo)體器件的設(shè)計、生產(chǎn)和品質(zhì)控制中起著至關(guān)重要的作用。
概倫晶圓級全自動量測解決方案ATS是基于FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)分析儀和自研硬件設(shè)備及測量控制軟件開發(fā)的一套全自動電性量測解決方案。該方案可根據(jù)使用需求靈活集成多種軟硬件，廣泛應(yīng)用于電流電壓（IV）、電容電壓（CV）、脈沖式IV、高速時域信號采集、低頻噪聲測試以及多種可靠性測試。
LabExpress電性參數(shù)測試軟件是針對半導(dǎo)體器件研發(fā)與生產(chǎn)環(huán)境中的電性參數(shù)測試應(yīng)用而設(shè)計的一款專業(yè)EDA工具，通過用戶友好的圖形界面支持了廣泛的測試設(shè)備，具備強大的測試分析和靈活的自定義能力。您可以使用預(yù)置模板快速完成測試，也可以為復(fù)雜的實驗編寫自定義測試算法和流程，軟件面向自動量測場景進行了深度優(yōu)化，支持晶圓映射和海量數(shù)據(jù)管理，可應(yīng)用于眾多專業(yè)化測試領(lǐng)域，提升自動化測試分析的效率和使用體驗。
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