緊湊型低頻噪聲測試系統(tǒng)
滿足各種閃爍噪聲和隨機(jī)電報噪聲/信號(RTN/RTS)測試要求。
與概倫FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)搭配共同提供一整套并行測試框架解決方案。
大幅提高測試效率和吞吐量。
內(nèi)置功能強(qiáng)大的NoiseProPlus軟件,支持1/f噪聲、RTN噪聲測試和數(shù)據(jù)分析。
多組內(nèi)建LNA放大器
支持極寬的阻抗匹配范圍
典型設(shè)備1/f 噪聲
60 秒/偏置
與FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)搭配
提供一整套并行測試框架解決方案
品質(zhì)卓越
性價比高
最大電壓和最大電流值
50V和100mA
MOSFET、SOI、FinFET、TFT、HV/LDMOS、BJT/HBT、JFET、二極管、電阻、封裝集成電路
先進(jìn)電路設(shè)計
工藝/器件評估
技術(shù)開發(fā)制程
質(zhì)量評估和監(jiān)控
半導(dǎo)體器件研究
噪聲特性表征
SPICE模型提取
噪聲特性表征