先進(jìn)寬帶噪聲分析儀
支持從超低頻到甚高頻域的噪聲測(cè)試與分析。
五組內(nèi)置放大器,領(lǐng)先的電流和電壓放大器復(fù)合設(shè)計(jì),支持隨應(yīng)用智能無感切換,輕松滿足不同帶寬和精度的電壓噪聲測(cè)試和電流噪聲測(cè)試。
寬電流、寬電壓、寬阻抗測(cè)量阻抗范圍,應(yīng)用范圍廣泛,支持晶圓級(jí)噪聲測(cè)試。
支持高吞吐量并行測(cè)試,提高測(cè)試效率。
可廣泛適用于從成熟制程到先進(jìn)制程下的工藝質(zhì)量評(píng)估,器件SPICE模型開發(fā),噪聲敏感型集成電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證等應(yīng)用,特別是甚高頻范圍的熱噪聲評(píng)估和射頻器件的噪聲特性評(píng)估。
支持從超低頻到甚高頻域的
噪聲測(cè)試應(yīng)用最大帶寬
可達(dá)0.03Hz-100MHz
最高DC電流精度:10pA
甚高頻下系統(tǒng)噪聲電流精度:<10-23 A2/Hz
系統(tǒng)噪聲電流精度:<10-27 A2/Hz
典型1/f 噪聲測(cè)試
在一個(gè)偏置條件下
僅需20 秒
支持高精度
高測(cè)試吞吐率
并行測(cè)試
寬電壓、寬電流、寬阻抗測(cè)量范圍,支持晶圓級(jí)
高精度和寬帶寬噪聲測(cè)試,尤其是甚高頻范圍的
熱噪聲評(píng)估和射頻器件的噪聲特性評(píng)估
內(nèi)置豐富的測(cè)試應(yīng)用庫,操作簡(jiǎn)單
具備強(qiáng)大的測(cè)試分析和
數(shù)據(jù)管理能力,直觀易用
1/f & RTN & 熱噪聲
特性測(cè)試和噪聲
數(shù)據(jù)分析
先進(jìn)工藝質(zhì)量/
工藝評(píng)估
和品質(zhì)監(jiān)控
半導(dǎo)體器件
SPICE模型庫
開發(fā)
高端
集成電路設(shè)計(jì)
和驗(yàn)證