靈活易用電性參數(shù)測試軟件
用戶友好的圖形界面,簡單直觀,復(fù)雜設(shè)定一步直達(dá),關(guān)鍵信息一覽無余,支持多窗口測試數(shù)據(jù)合圖對(duì)比。
支持廣泛的測試設(shè)備,默認(rèn)支持概倫的全系列測試儀器以及完整功能,還可以控制多種型號(hào)的探針臺(tái)、矩陣開關(guān)和第三方測試設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)測試。
集成了完整的測試算法,滿足DC、Pulse、CV、瞬態(tài)時(shí)域采樣、任意波形發(fā)生、噪聲、RF參數(shù)測試、可靠性測試、各類型的曲線掃描和點(diǎn)參數(shù)測試等應(yīng)用需要。
具備強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析能力,內(nèi)置多種數(shù)學(xué)計(jì)算公式,支持即時(shí)數(shù)據(jù)處理, 支持疊加分析和一鍵變換測試分析圖像,支持圖像上的距離、斜率、相關(guān)系數(shù)測量。
支持晶圓級(jí)數(shù)據(jù)與海量設(shè)定管理,支持晶圓映射與測試計(jì)劃創(chuàng)建,測試工程數(shù)據(jù)庫保存,晶圓級(jí)數(shù)據(jù)隨時(shí)調(diào)用。
內(nèi)置腳本化編程平臺(tái),支持自定義測試算法、靈活的測試流程和復(fù)雜的數(shù)學(xué)計(jì)算分析。
圖形化界面直觀便捷
復(fù)雜設(shè)定一步直達(dá)
關(guān)鍵信息一覽無余
完整的待測器件類型
豐富的內(nèi)置測試算法
支持概倫全系列測試儀器
以及完整功能
支持主流探針臺(tái)、矩陣開關(guān)
和第三方測試設(shè)備
內(nèi)置多種數(shù)學(xué)計(jì)算公式
即時(shí)數(shù)據(jù)處理
圖像變換與疊加分析
距離、斜率等圖像上測量
支持晶圓映射與測試計(jì)劃創(chuàng)建
支持晶圓級(jí)數(shù)據(jù)分析、
管理、保存和隨時(shí)調(diào)用
內(nèi)置腳本化編程平臺(tái)
支持自定義測試算法
支持靈活的測試流程
和復(fù)雜數(shù)學(xué)計(jì)算分析
晶圓級(jí)
電性參數(shù)測試
模型電學(xué)特性
曲線測試
晶圓級(jí)
可靠性測試
高吞吐量
自動(dòng)化測試