先進(jìn) PDK 驗(yàn)證平臺(tái)
包含多種PDK自動(dòng)化驗(yàn)證機(jī)制,包括TechFile、PCellCDF、PCell物理驗(yàn)證(DRC/LVS)功能。
支持從0.18um到22nm各平面工藝以及FinFET各工藝制程在數(shù)字邏輯、模擬、高壓、射頻等多種應(yīng)用場(chǎng)景PDK的自動(dòng)化驗(yàn)證。
旨在幫助PDK開(kāi)發(fā)和使用者快速高效地完成驗(yàn)證工作確保PDK的質(zhì)量,并幫助設(shè)計(jì)工程師快速分析、比較來(lái)自不同芯片制造廠的各版本PDK性能。
支持平面工藝和FinFET先進(jìn)工藝
支持主流Foundry PDK格式、主流EDA工具
支持PCell驗(yàn)證等流程、QA完整性覆蓋和不同格式組合性能比對(duì)
內(nèi)嵌多種測(cè)試用例產(chǎn)生方案可顯著提高驗(yàn)證效率
支持用戶多種自定義方式產(chǎn)生測(cè)試用例
已有的PDK QA設(shè)置和產(chǎn)生測(cè)試用例的方式可在其它驗(yàn)證項(xiàng)目中重復(fù)利用
PDK QA Pattern
自動(dòng)創(chuàng)建
PDK并行
QA驗(yàn)證
PDK多版本
交叉比對(duì)
iPDK
QA驗(yàn)證
某國(guó)際領(lǐng)先Fab選用PQLab作為PDK開(kāi)發(fā)首選驗(yàn)證工具來(lái)替換原有內(nèi)部腳本驗(yàn)證流程。該工具的PDK一鍵導(dǎo)入功能和內(nèi)嵌的多種驗(yàn)證檢查機(jī)制,可自動(dòng)生成大批量測(cè)試pattern,幫助工程師快速識(shí)別PCell質(zhì)量缺陷,并通過(guò)清晰的報(bào)告幫助客戶準(zhǔn)確定位。客戶采用統(tǒng)一的工具平臺(tái),降低了對(duì)工程師驗(yàn)證經(jīng)驗(yàn)的要求,消除了因工程師個(gè)人能力差異帶來(lái)的影響,從整體上顯著提升了客戶PDK驗(yàn)證效率和質(zhì)量。
某領(lǐng)先芯片設(shè)計(jì)公司COT部門采用PQLab工具實(shí)現(xiàn)對(duì)二次開(kāi)發(fā)PDK的快速驗(yàn)證,工程師們通過(guò)PQLab工具批量生成測(cè)試pattern,精準(zhǔn)快速定位PDK質(zhì)量問(wèn)題,加速了PDK交付效率,為電路設(shè)計(jì)提供質(zhì)量更為可靠的PDK,有效節(jié)省設(shè)計(jì)驗(yàn)證時(shí)間。