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DTCO 設(shè)計(jì)工藝協(xié)同優(yōu)化解決方案
基于業(yè)界領(lǐng)先的模型/PDK/標(biāo)準(zhǔn)單元庫快速生成技術(shù)、創(chuàng)新型DTCO平臺(tái)和優(yōu)化引擎，全面優(yōu)化器件性能、工藝配方、電路YPPA和可靠性，解決影響DTCO實(shí)現(xiàn)效率的主要瓶頸，將SPICE建模、PDK到單元庫開發(fā)周期從數(shù)月縮短到數(shù)周，加速工藝開發(fā)和芯片設(shè)計(jì)迭代，為代工廠、IDM和設(shè)計(jì)公司提供先進(jìn)的設(shè)計(jì)支持流程和解決方案。
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Design Enablement 設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)解決方案
為芯片代工廠和先進(jìn)Fabless公司提供以數(shù)據(jù)為驅(qū)動(dòng)的一站式Design Enablement 解決方案，聯(lián)動(dòng)芯片設(shè)計(jì)和工藝制造，方案覆蓋從半導(dǎo)體器件特性測試、SPICE建模、PDK開發(fā)到標(biāo)準(zhǔn)單元庫開發(fā)的完整EDA工具鏈、專業(yè)Know-how和工程服務(wù)與技術(shù)培訓(xùn)。
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電路仿真驗(yàn)證一體化解決方案
NanoSpice產(chǎn)品家族掌握業(yè)界領(lǐng)先的并行式大容量SPICE仿真、高性能雙引擎FastSpice電路仿真和混合信號(hào)仿真(Cosim)技術(shù)，支持電路檢查(CCK)分析、信號(hào)完整性(SI)分析、High-Sigma電路良率分析、晶體管老化分析等功能模塊，提供覆蓋全面的定制電路仿真和驗(yàn)證解決方案，包括存儲(chǔ)器(Flash/DRAM/SRAM)電路、通用型模擬電路、電源管理、Serdes/ADC/DAC等高速高精度混合信號(hào)電路、以及時(shí)鐘樹等高速定制數(shù)字電路。
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全定制電路設(shè)計(jì)解決方案
依托于靈活、可擴(kuò)展的NanoDesigner全定制設(shè)計(jì)平臺(tái)，無縫集成概倫NanoSpice系列電路仿真器，全面兼容OpenAccess數(shù)據(jù)庫、業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)文件和各類標(biāo)準(zhǔn)工具接口，整合原理圖與版圖設(shè)計(jì)、電路仿真與分析、物理驗(yàn)證與設(shè)計(jì)自動(dòng)化于一體，為以各類存儲(chǔ)器電路、模擬電路等為代表的定制類芯片設(shè)計(jì)提供完整的EDA全流程解決方案。
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標(biāo)準(zhǔn)單元庫設(shè)計(jì)加速解決方案
采用先進(jìn)的分布式并行架構(gòu)技術(shù)、單元電路分析提取算法，內(nèi)嵌概倫高精度NanoSpice仿真器，提供從標(biāo)準(zhǔn)單元庫自動(dòng)化設(shè)計(jì)、庫特征化到驗(yàn)證的完整標(biāo)準(zhǔn)單元庫設(shè)計(jì)解決方案，可有效提高效率、縮短開發(fā)周期。
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SPICE模型基帶建模
? BSIMProPlus
射頻建模
? MeQLab
自動(dòng)化提取
? SDEP
驗(yàn)證評(píng)估
? ME-Pro
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PDKPCell開發(fā)
? PCellLab
PDK驗(yàn)證
? PQLab
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標(biāo)準(zhǔn)單元庫特征化
? NanoCell
驗(yàn)證
? LibWiz
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制造光刻工藝建模仿真
? FabLitho
掩模版自動(dòng)化設(shè)計(jì)
? FAR
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電路設(shè)計(jì)平臺(tái)原理圖設(shè)計(jì)
? NanoDesigner SE
版圖編輯
? NanoDesigner LS
交互式物理驗(yàn)證
? NanoDesigner?iV
設(shè)計(jì)優(yōu)化
? NanoDesigner?Optimizer
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電路仿真SPICE仿真器
? NanoSpice ? NanoSpice X ? NanoSpice?Giga
FastSPICE仿真器
? NanoSpice?Pro ? NanoSpice Pro X
混合信號(hào)仿真
? NanoSpice?MS
波形查看分析
? NanoWave
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電路分析
動(dòng)態(tài)和靜態(tài)電路檢查
? NanoSpice CCK
良率分析
? NanoYield
信號(hào)完整性分析
? NanoSpice?SI
路徑分析
? PathInspector
功率及電源芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證
? PTM
電源網(wǎng)絡(luò)分布分析
? RNi
ESD驗(yàn)證
? ESDi
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電路仿真數(shù)字仿真
? VeriSim
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標(biāo)準(zhǔn)單元庫
特征化
? NanoCell
驗(yàn)證
? LibWiz
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SoC設(shè)計(jì)與驗(yàn)證時(shí)序分析
? TRASTA
設(shè)計(jì)布局規(guī)劃
? NavisPro
信號(hào)完整性
? NanoSpice?SI
電源分析
? PTM
ESD驗(yàn)證
? ESDi
芯片封裝連接驗(yàn)證
? PadInspector